TOP > ニュースリリース > 『Patentfield』活用ガイド掲載のお知らせ~第4弾 2値分類による関連特許の自動仕分け~

ニュースリリース

新着・更新情報

2020.08.13

『Patentfield』活用ガイド掲載のお知らせ~第4弾 2値分類による関連特許の自動仕分け~

平素は、AI特許総合検索・分析プラットフォーム『Patentfield』をご愛顧いただきありがとうございます。

 このたび、ユーザーの皆様に、よりPatentfieldを有効活用いただけるように、Patentfieldの効果的な使い方や活用方法、便利な機能等を解説した『活用ガイド』の第4弾を掲載いたしましたので、お知らせいたします。


活用ガイドの第4弾のテーマは、「過去の調査記録を利用した調査業務の効率化 2値分類による関連特許の自動仕分け」です。

研究開発テーマに関連して、先行技術調査、侵害予防調査、出願前調査、継続調査(SDI)など開発ステップの進行に応じて、継続的に特許調査を実施する場合に、AI分類予測の「2値分類」機能を使用することで、特許調査を効率化することができます。

2値分類」では、開発テーマに関連する/しない特許を教師データとしてインプットさせることで、教師データに基づいて検索結果から開発テーマに関連する特許をAIが仕分けしてくれるので、開発テーマに関連する特許だけを効率的に調査することができます。

また、調査結果を教師データとして保存しておくことで、開発テーマの関連特許DBを構築し、マップ可視化機能による関連特許の分析を行うこともできます。

【2値分類による関連特許自動仕分けのメリット】
・過去の調査記録を教師データとしてセットするだけで自動仕分けができる。
・継続的な調査記録を教師データとして追加セットすることで、仕分けの精度向上が期待できる。
・調査記録を教師データとして保管することで、関連特許のDBとして利用できる。
・関連特許DBを利用したマップ分析により、開発戦略に活用できる。

【対象者】
・知的財産部門関係者

活用ガイドにつきましては、今後も、順次コンテンツを拡充していく予定です。

Patentfield 活用ガイド】
https://patentfield.com/help/utility-guide


【本リリースに関するお問い合わせ】
Patentfield株式会社
カスタマーサポート
TEL075-751-9601
Email
[email protected]