検索項目コード

検索対象によって、検索可能な種別が異なります。

  1. 長文テキスト系: 部分一致/近傍
  2. 数値/日付:不等号、 範囲
  3. その他の属性情報: 完全一致/前方一致/あいまい一致

"出願人/譲受人/権利者(出願/付与/最新)"など横断でのコードは部分一致での検索が可能ですが、"出願人 (JP:最新)"などは完全一致または前方一致での検索が必要となっているので注意して下さい。
 コード(省略)は、コマンド検索でのみ利用できます。

説明コード(省略)コード検索種別
名称/要約/請求の範囲/明細書/審査官フリーワードKWkeywords部分一致/近傍
名称/要約/請求の範囲
KWCkeyword_claims部分一致/近傍
名称/要約/請求の範囲/明細書
KWDkeyword_desc
部分一致/近傍
セマンティック検索SEsemantic番号指定/文章
名称TItitle部分一致/近傍
要約ABabstract部分一致/近傍
請求の範囲 (出願/付与)CLclaims部分一致/近傍
請求の範囲 (出願)ACLapp_claims部分一致/近傍
請求の範囲 (付与)GCLgrant_claims部分一致/近傍
明細書DEdescription部分一致/近傍
出願人/譲受人/権利者 (出願/付与/最新)APPapplicants部分一致/近傍
出願人/譲受人/権利者 住所 (出願/付与/最新)APPADapplicants_addr部分一致/近傍
代理人/特許事務所 (出願/付与/最新)ATTattorneys部分一致/近傍
発明者 (出願/付与/最新)INVinventors部分一致/近傍
発明者 住所 (出願/付与/最新)INVADinventors_addr部分一致/近傍
出願国CNTcountry完全一致/前方一致/あいまい
公開種別 (Kind Code)KNDkinds完全一致/前方一致/あいまい
出願番号ANapp_id完全一致/前方一致/あいまい
出願番号(オリジナル)ANOapp_id_o完全一致/前方一致/あいまい
出願日ADapp_date完全一致/範囲/不等号
出願年AYapp_year完全一致/前方一致/あいまい
出願月AMapp_month完全一致
シリーズコード (US)SCseries_code完全一致/前方一致/あいまい
公開番号PNpub_id完全一致/前方一致/あいまい
公開番号(オリジナル)PNOpub_id_o完全一致/前方一致/あいまい
公開日PDpub_date完全一致/範囲/不等号
公開年PYpub_year完全一致/前方一致/あいまい
公開月PMpub_month完全一致
公告/登録公報番号ENexam_id完全一致/前方一致/あいまい
公告/登録公報番号(オリジナル)ENOexam_id_o完全一致/前方一致/あいまい
公告/登録公報発行日EDexam_date完全一致/範囲/不等号
公告/登録公報発行年EYexam_year完全一致/前方一致/あいまい
公告/登録公報発行月EMexam_month完全一致
登録日RDreg_date完全一致/範囲/不等号
登録年RYreg_year完全一致/前方一致/あいまい
登録月RMreg_month完全一致
PCT公開番号WPNwo_pub_id完全一致/前方一致/あいまい
PCT公開日WPDwo_pub_date完全一致/範囲/不等号
PCT出願番号WANwo_app_id完全一致/前方一致/あいまい
PCT翻訳文提出日WTDwo_trans_date完全一致/範囲/不等号
IPCセクションIPCSECipc_sections完全一致/前方一致/あいまい
IPCクラスIPCCLSipc_classes完全一致/前方一致/あいまい
IPCサブクラスIPCSUBCLSipc_subclasses完全一致/前方一致/あいまい
IPCIPCipcs完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワードFWword_weights完全一致/前方一致/あいまい
優先権主張番号
※オリジナル形式(2004177663)
PRNpriority_claims完全一致/前方一致/あいまい
優先日PRDpriority_dates完全一致/範囲/不等号
優先国PRCNTpriority_countries完全一致/前方一致/あいまい
国内優先権主張番号 (JP)
※EPODOC形式(JP20040177663)
PRNJPpriority_claims_jp完全一致/前方一致/あいまい
原出願番号
※オリジナル形式(2006514768)
PANparents完全一致/前方一致/あいまい
原出願日PADparent_dates完全一致/範囲/不等号
原出願種別PATparent_types完全一致/前方一致/あいまい
原出願番号 (JP)
※EPODOC形式(JP20060514768)
PANJPparents_jp完全一致/前方一致/あいまい
遡及日RETDretroacted_date完全一致/範囲/不等号
請求項数 (付与)GRCLCgrant_claim_count完全一致/範囲/不等号
請求項 (出願) 文字数APCLCHapp_claims_size完全一致/範囲/不等号
請求項 (付与) 文字数GRCLCHgrant_claims_size完全一致/範囲/不等号
明細書 (付与) 文字数DECLCHdescription_size完全一致/範囲/不等号
被引用件数 (JP・US)CITINGCciting_count完全一致/範囲/不等号
引用件数 (国内)CITEDCcited_count完全一致/範囲/不等号
引用件数 (国外)CITEDFCcited_foreign_count完全一致/範囲/不等号
被引用特許 (JP・US)CITINGANciting_patents_app完全一致/前方一致/あいまい
引用特許 (国内)CITEDPNcited_patents完全一致/前方一致/あいまい
引用特許 (国内 出願番号)CITEDANcited_patents_app完全一致/前方一致/あいまい
引用特許 (国外)CITEDFPNcited_foreign_patents完全一致/前方一致/あいまい
引用特許 国 (国外)CITEDPCNTcited_foreign_patent_countries完全一致/前方一致/あいまい
引用文献 (非特許)CITEDDOCcited_documents部分一致/近傍
新規性喪失の例外LONlack_of_novelties部分一致/近傍
FIFIfis完全一致/前方一致/あいまい
テーマコードTHthemes完全一致/前方一致/あいまい
FタームFTfterms完全一致/前方一致/あいまい
審査官フリーワードFRfreewords完全一致/前方一致/あいまい
請求項数 (出願) (JP)APCLCapp_claim_count完全一致/範囲/不等号
審査請求数 (JP)AMREQapm_req_exam完全一致/範囲/不等号
審査請求日 (JP)AMREQDapm_req_exam_date完全一致/範囲/不等号
審査記録 中間コード (JP)AMCapm_examine_codes完全一致/前方一致/あいまい
審査記録 拒絶理由条文コード (JP)AMRCapm_rejection_codes完全一致/前方一致/あいまい
審査記録 最終処分コード (JP)AMFEapm_detail_app_final_exam完全一致/前方一致/あいまい
審査記録 最終処分日 (JP)AMEDapm_detail_app_exam_date完全一致/範囲/不等号
審査記録 査定種別コード (JP)AMFDapm_detail_app_final_decision完全一致/前方一致/あいまい
審査記録 査定日 (JP)AMDDapm_detail_app_decision_date完全一致/範囲/不等号
登録記録 中間コード (JP)RMCrgm_regist_codes完全一致/前方一致/あいまい
権利抹消識別 (JP)RMRCrgm_detail_reg_cancel完全一致/前方一致/あいまい
登録記録 審決日 (JP)RMDDrgm_dec_date_trial_date完全一致/範囲/不等号
存続期間満了日 (JP)RMFDrgm_detail_reg_final_date完全一致/範囲/不等号
権利消滅日 (JP)RMTDrgm_detail_reg_term_end_date完全一致/範囲/不等号
次期年金納付期限日 (JP)RMNDrgm_next_date完全一致/範囲/不等号
出願人 (JP:最新)AMAPPapm_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人 国/都道府県 (JP:最新)AMAPPCNTapm_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人数 (JP:最新)AMAPPCapm_applicants_count完全一致/範囲/不等号
代理人 (JP:最新)AMATTapm_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
特許事務所 (JP:最新)AMATTOapm_attorney_offices完全一致/前方一致/あいまい
発明者 (JP:最新)AMINVapm_inventors完全一致/前方一致/あいまい
発明者 国/都道府県 (JP:最新)AMINVCNTapm_inventor_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人 (JP:出願)APAPPapp_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人 国/都道府県 (JP:出願)APAPPCNTapp_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人数 (JP:出願)APAPPCapp_applicants_count完全一致/範囲/不等号
代理人 (JP:出願)APATTapp_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
特許事務所 (JP:出願)APATTOapp_attorney_offices完全一致/前方一致/あいまい
発明者 (JP:出願)APINVapp_inventors完全一致/前方一致/あいまい
発明者 国/都道府県 (JP:出願)APINVADapp_inventor_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人 (JP:付与)GRAPPgrant_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人 国/都道府県 (JP:出願)GRAPPCNTgrant_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人数 (JP:付与)GRAPPCgrant_applicants_count完全一致/範囲/不等号
代理人 (JP:付与)GRATTgrant_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
特許事務所 (JP:付与)GRATTOgrant_attorney_offices完全一致/前方一致/あいまい
発明者 (JP:付与)GRINVgrant_inventors完全一致/前方一致/あいまい
発明者 国/都道府県 (JP:付与)GRINVCgrant_inventor_countries完全一致/前方一致/あいまい
権利者 (JP:最新)RMHrgm_holders完全一致/前方一致/あいまい
権利者 国/都道府県 (JP:最新)RMHCNTrgm_holder_countries完全一致/前方一致/あいまい
権利者数 (JP:最新)RMHCrgm_holders_count完全一致/範囲/不等号
審判記録 中間コード (JP)AECaem_appeal_codes完全一致/前方一致/あいまい
審判番号 (JP)AENaem_appeal_numbers完全一致/前方一致/あいまい
審級等の種別 (JP)AEIaem_kind_of_instances完全一致/前方一致/あいまい
審判種別 (JP)AEAaem_kind_of_appeals完全一致/前方一致/あいまい
審判最終処分種別 (JP)AEDIaem_kind_of_disposition_in_appeals完全一致/前方一致/あいまい
審判請求人 (JP)AELaem_licensees完全一致/前方一致/あいまい
審判請求代理人 (JP)AELATTaem_licensee_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
審判被請求人 (JP)AEDEaem_defendants完全一致/前方一致/あいまい
審判被請求代理人 (JP)AEDEATTaem_defendant_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
審判異議申立人 (JP)AEOPaem_opponents完全一致/前方一致/あいまい
審判異議申立代理人 (JP)AEOPATTaem_opposition_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
異議決定の種別 (JP)AMOPKNDapm_opposition_kinds完全一致/前方一致/あいまい
審査異議申立人 (JP)AMOPapm_opponents完全一致/前方一致/あいまい
審査異議申立代理人 (JP)AMOPATTapm_opposition_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
名称 (EN) (Patent Abstract of Japan)JENTIen_title部分一致/近傍
要約 (EN) (Patent Abstract of Japan)JENABen_abstract部分一致/近傍
出願人 (EN) (Patent Abstract of Japan)JENAPPen_applicants部分一致/近傍
発明者 (EN) (Patent Abstract of Japan)JENINVen_inventors部分一致/近傍
国等の委託研究の成果に係る記載事項INDLindustrial_laws部分一致/近傍
USPCクラスUSPCCLSuspc_classes完全一致/前方一致/あいまい
USPCUSPCuspcs完全一致/前方一致/あいまい
USPCクラス (意匠)USDCCLSus_design_code_classes完全一致/前方一致/あいまい
USPC (意匠)USDCus_design_codes完全一致/前方一致/あいまい
ロカルノ分類LOClocarnos完全一致/前方一致/あいまい
出願人/譲受人 (US:出願)USAPAPPus_app_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人数/譲受人数 (US:出願)USAPAPPCus_app_applicants_count完全一致/範囲/不等号
出願人/譲受人 国 (US:出願)USAPAPPCNTus_app_applicant_countries完全一致/範囲/不等号
代理人/事務所 (US:出願)USAPATTus_app_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
発明者 (US:出願)USAPINVus_app_inventors完全一致/前方一致/あいまい
出願人/譲受人 (US:付与)USGRAPPus_grant_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人数/譲受人数 (US:付与)USGRAPPCus_grant_applicants_count完全一致/前方一致/あいまい
出願人/譲受人 国 (US:付与)USGRAPPCNTus_grant_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
代理人/事務所 (US:付与)USGRATTus_grant_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
発明者 (US:付与)USGRINVus_grant_inventors完全一致/前方一致/あいまい
グループ開始 (括弧開)((
グループ終了 (括弧閉)))
引用関係結合CNMcitation_merge

スペース区切りでオプションを指定します。
"CITED=2 CITING=2 BOTH MAX_EDGES=2 REMOVE_ROOT EXCLUDE_SAME=apm_applicants INCLUDE_SAME=country"
CITED: 引用世代数
CITING:被引用世代数
REMOVE_ROOT: 引用/非引用元を除外
BOTH: 引用/被引用先の両方を結合
MAX_EDGES: 最大接続数
EXCLUDE_SAME: 同一値を除外
INCLUDE_SAME: 同一値のみを対象